半导体高低温冲击测试箱与半导体高低温冲击试验箱均是常用于半导体行业及半导体产品、材料、配件做在瞬间下经温及极低温的连续环境下所能忍受的程度,藉以在短时间内试验其热胀冷缩所引起的化学变化及物理伤害。

半导体（ semiconductor），指常温下导电性能介于导体（conductor）与绝缘体（insulator）之间的材料。当电流通过各种物体时，不同的物体对电流的通过有着不同的阻止能力，有的物体可使电流顺利通过，也有的物体不让其通过，或者在一定的阻力下让它通过。这种不同的物体通过电流的能力，叫做这种物体的导电性能。各种物体均有着不同的导电性能，凡是导电性能很好的物体叫做导体。如铝、银、铜、铅、锡、铁、水银、碳和电解液等都是良好导体。反之，导电能力很差的物体叫做绝缘体。还有，有的物体的导电能力比导体差，但比绝缘体强，这种导体叫做半导体。如常用的晶体管原材料硅、锗等。收音机 CPU都是半导体。所以半导体的产品应用很广泛，分类也很广泛，那么高低温冲击测试箱及高低温冲击试验箱的市场需求也就非常广泛。

半导体高低温冲击测试箱｜半导体高低温冲击试验箱爱佩选材：

内箱材料：不锈钢板SUS＃304；

外箱材料： SUS304#不锈钢或A3双面镀锌钢板烤漆；

整机保温材料: 硬质聚氨酯泡沫，它的优势分别是：1. 节能，填充后无缝隙，固化后粘结强固。2. 防震抗压，固化后不开裂，不腐化，不脱落。3. 具有超低温热传导率，耐候保温。4. 绝缘，隔音，固化后防水防潮。5.防水性能好，因为泡沫孔是封闭的，封闭率达95% ,雨水不会从孔间渗过去。）

空气调节通道:风机、蒸发器、加热器、风门、温度传感器；

标准配置：样品隔层架2个、调整挂钩4个.

引线孔：可在在箱体的左侧面开设 1 个或多个直径为Ф50mm或Ф100mm的引线孔用于测试半导体电源和测试信号线引入，带有测试孔密封盖；

半导体高低温冲击测试箱｜半导体高低温冲击试验箱的空气开关器（防止过流和短路）；

风机过热保护（保护送风机，防止风机温度过高）；

超温保护（防止试验室温度过高，保护试品）；

压缩机超压，过热、过流保护（保护压缩机，防止压力，温度，电流过高）；

空调室局部温度保护（防止加热部周围温度过高，保护试验室壳体）；

温度熔断丝干烧保护器（防止锅炉缺水空烧）；

保险丝（防止控制回路和照明回路短路）；

箱体压力保护（防止箱内压力过高造成试验室本体损坏）

半导体高低温冲击测试箱｜半导体高低温冲击试验箱的标准型型号（另：可根据客户要求定做）：

AP-CJ--80 内箱尺寸：500×400×400 外箱尺寸：1800×1800×1440

AP-CJ--150 内箱尺寸：600×500×500 外箱尺寸：1800×1900×1540

AP-CJ--250 内箱尺寸：700×600×600 外箱尺寸：1900×2000×1640

AP-CJ-S-480 内箱尺寸：800×800×750 外箱尺寸：2020×2250×2150

半导体高低温冲击测试箱｜半导体高低温冲击试验箱的测控系统：

1.控制器：进口7寸触屏中英文显示器+PLC﹙控制软件﹚+温控模块

2.运行方式：程序方式

﹙1﹚控制对象 试验区曝露温度

高温恒温区预热温度

低温恒温区预热温度

低温恒温区除霜温度

﹙2﹚指示精度 0.1℃

﹙3﹚输 入 热电偶 TDIN

﹙4﹚控制方式 微电脑PID+SSR控制

3.设定方式：中文菜单，触摸屏方式输入。

4.程序容量：100组程式，每个程序3步；每个程序可设1000次循环，循环设定9999cycles;

5.设定范围：预热预冷箱区

高温室预热温度上限：+200℃；

低温室预冷温度下限：-75℃；

试验室﹙试样区﹚

温度冲击上限：+150℃；

温度冲击下限：-65℃

6.显示分辨率：温度：0.1℃ 时间：0.1min;

7.通讯功能：RS-232接口及USB接口，具有本地和远程通讯功能；

8.控制方式：抗积分饱和PID，模糊算法；BTC平衡调温控制方式；

9.附属功能：故障报警及原因、处理提示功能、超温保护、故障记录、上下限温度保护、传感器上下风选择、断电保护、试验暂停、报警输出、时间信号输出，试验结束输出、温度到达输出、定时启动及自动停止功能、自诊断功能。

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