北京合能阳光新能源技术有限公司

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NIR-01-3D红外探伤测试仪

2024-12-17 03:00:01  4145次浏览 次浏览
价 格:面议

NIR-01-3D红外探伤测试仪

NIR-01-3D型红外探伤测试仪是采用欧洲CNC工程铝合金材料,其表面都采用了高强度漆面和电氧化工艺保护,系统外框采用高质量工业设计,所有的部件的设计都达到了长期高强度使用及小维护量的要求,做到的稳定性和耐用性。

技术特点:

自动化程度更高,测试效果更好

采用铟镓砷传感器,而非一般厂家采用固定值的模拟摄像管,具有硬件图像校正和计算机参数控制的功能(包括亮度,伽马,积分时间),其灵敏度好,探伤结果与实际情况一致性佳。不需为不同尺寸的硅块设置不同的硬件参数(探伤位置,聚焦点,校准)

我们的软件系统为不同硅块的表面情况及尺寸提供设置菜单,没有必要在硬件上进行设置(当然我们也可以从硬件上进行设置)。

光源探照有效同质区域为300×330mm/550mm,我们采用了特殊扩散板材料,保证了在没有图像处理的情况也能确保成像质量。

测试范围更广

不仅可以探测标准尺寸的硅块,而且可以探测任何尺寸的硅块,没有光源照射区域限制。

也可直接对未抛光的硅块进行直接探测。

寿命更长

红外照相机3年免费保修或更换的承诺

我们采用的是独特的含有冷却单元的工业级镀金近红外卤管,保证了光源的持久耐用性,设备已经不采用普通卤管设计,我们提供了强致冷却单元,为设备的正常使用提供了足够的冷却单元,大大延长了仪器的使用寿命。

所有的部件的设计都达到了长期高强度使用及小维护量的要求

即使在高照明的条件下,我们的相机传感器也几乎没有退化的情况。

有多年在欧洲生产销售应用的经验,产品具有优良的工业应用性。

检测更快

检测速度快,自动四面检测< 1分钟,快速两面检测<20秒,一面<5秒

系统功能强大

可定制硅块缝合复原功能

可定制硅块尺寸测试模块

可根据客户需求进行功能模块定制,包括硅锭晶体生长情况进行工艺分析

可定制在线生产模式

可定制砷化镓磷化铟等其他半导体材料的探伤检测

可定制中文操作系统界面

技术指标:

主要探测指标:裂缝,黑点,夹杂(通常为SiC),隐裂,微晶

硅块电阻率:0.5Ohm*Cm(推荐)

检测时间:平均每个硅块小于1分钟,两面小于20秒,一面小于5秒

硅块尺寸:210mmx210mmx420mm

分辨率:320px*256px(早生产的产品)

640 px *512px(目前市场供应)

1280 px*1024px(2010年12月份批量生产)

2560 px*2048px(行业,2011年1-3月份批量生产)

旋转台

采用单轴伺服电机

承载量:40kg

具有过流保护以防止损伤和电机烧毁

无步进损失,高分辨率解码机器

红外光源

高强度NIR卤灯,273mm加热波长

功率:230V,1000W

温度:25-60摄氏度

光强可通过软件控制

软件具有过热保护

观测仪

采用红外CCD控温

12位ADC

频率:60Hz和100Hz两个选择

像素间距: 30μm

可手动调节红外镜头

测试样品

测试硅块尺寸:210mmx210mmx420mm

一套硬件装备可以检测所有尺寸的硅块

适用于不同的表面质量和厚度的硅块

适用于抛光面和裸面,抛光面探测效果更佳

电阻率:0.5Ohm*Cm(推荐)

应用

裂缝,黑点,夹杂(通常为SiC),隐裂,微晶

软件(基于WIN XP)

可从四个方向进行自动取样

可快速进行样块的快速测量

软件会对探测结果进行评价

可对检测参数进行灵活设置

可进行像素管理和图像处理

系统将对探测结果进行三维立体描绘

详情欢迎来电咨询:

北京合能阳光新能源技术有限公司

北京市通州区工业开发区光华路16号

-104 -608

联系人:肖经理

E-mail:xiaozongyong@

公司网站:

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